温度冲击试验箱试验目的及要求

　　温度冲击试验箱用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温、低温的连续环境下所能忍受的程度，适用于科研、学校、工厂、军工等单位用于电工、电子产品、半导体、电子线路板、金属材料、轴承等各种材料在温度急剧变化环境下的适应性试验。

　　1、试验目的：确定测试产品在周围大气温度急剧变化时的适应性及被破坏性。

　　2、试验条件：高温箱：RT～150℃，低温箱：RT～-40℃，试验温度保持时间：1h或者直至试验样品达到温度稳定，以时间长者为准,循环次数：针对各个不同行业不同厂家所对应的试验要求不一样，按照标准上的试验方法测试。

　　3、恢复：测试产品从冷热冲击箱内取出后，应在正常的试验大气条件下进行恢复，直至试验样品达到温度稳定。

　　4、高低温冲击试验箱参照标准：

　　GB/T2423.1.2、GB/T2423.2、GB10592、GJB150.3、GJB150.4

　　5、对温度冲击试验箱的要求：

　　a.采用高温箱和低温箱进行冷热冲击试验,以提供试验样品经受周围空气温度急剧发生变化的环境温度。

　　b.高温区的要求,应符合GJB150.3-86《军用设备环境试验方法高温试验》的第3章各条所规定的要求。

　　c.低温区的要求，应符合GJB150.4-86《军用设备环境试验方法低温试验》的第3章各条所规定的要求。

　　d.提供高温试验部分和低温试验部分,应分别符合GJB150.3-86和GJB150.4-86的第3章各条所规定的要求。

　　e.试验箱的容积应保证在试验样品放入候补超过试验温度保持时间的10%就能使试验箱(室)温度达到GJB150.1-89中3.2条规定的试验条件容差范围之内。

　　6、温度冲击试验箱控制系统:低温区、高温区转换时间≤15s。温度恢复时间≤5min。